原子序数衬度像技术（Z-contrast），一种采用高角环形检测器收集扫描透射电子显微镜(STEM)的衍射模式下的高角度漫散射电子成像的技术。
使用原子序数衬度像(Z-contrast)技术的扫描透射电子显微镜可以达到原子级别的分辨率，是当今最新的可达到最高分辨率的电子显微镜Z-contrast STEM采用的主要技术。
这种技术由美国橡树岭国家实验室的研究人员彭尼库克(S. J. Pennycook )在1988年首次发明采用，此后一直是扫描透射电子显微术中达到高分辨率的一种主要技术。
与传统的电子显微镜成像技术相比，它有以下一些优点：
随着这种技术的理论和实验的不断展开，原子序数衬度像技术可能在材料原子尺度的结构研究中发挥重要作用。
S. J. Pennycook
橡树岭国家实验室STEM实验组（英文）
